Aktuality | 25.05.09
Předpokládalo se, že šum v tranzistorech (náhodné přepínání způsobené především mechanickými nečistotami materiálu) odpovídá především jejich frekvenci. Vědci z NIST ale podle nově publikovaných výsledků došli k závěru, že celá záležitost je složitější.
Uvedená závislost zřejmě platila pro tranzistory starších typů, nemá ale obecný charakter. Současné nanotranzistory se chovají jinak. Zdálo by se, že je to dobrá zpráva, protože teď bude možné snadněji zvyšovat frekvenci procesorů. Současně se ale zjistilo, že chybovost roste spolu se snižováním příkonu. To je nepříjemné z řady důvodů, třeba u kardiostimulátorů nebo u mobilní elektroniky; v obou případech je nízká spotřeba energie žádoucí, u kardiostimulátoru si ovšem takové chyby lze těžko dovolit.
Celému jevu dosud pořádně nerozumíme. Další informace viz SecurityWorld.
Komentáře
26.05.09, 21:43 pavelhouser
dekuji
ja cerpal z tohoto
http://www.sciencedaily.com/releases/2009/05/090521112717.htm
uz ten puvodni zdroj je zmateny, no a nejspis jsem to zrovna nevylepsil, tak dekuji za dodani odkazu na snad lepsi puvodni text
26.05.09, 13:21 Drake
ztraceno v překladu?
http://www.eetimes.com/news/latest/showArticle.jhtml?articleID=217600659
Původní teorie předpokládala jako viníka šumu kvantové tunelování, a mělo se to zhoršovat s pokračující miniaturizací, ale taková závislost pomalu přestává platit, zatímco závislost na frekvenci a napětí je čím dál tím větší. Tzn. pracovní model zřejmě není dost dobrý a je třeba dalšího výzkumu.
Napsat vlastní komentář
Pro přidání příspěvku do diskuze se prosím přihlašte v pravém horním rohu, nebo se prosím nejprve registrujte.