***oznámení Tiskového odboru AV ČR (upraveno) Ústav fyziky plazmatu Akademie věd ČR získal pro své optické pracoviště sídlící v Turnově dotaci ve výši téměř 176 milionů Kč z Operačního programu Výzkum a vývoj pro inovace na financování projektu regionálního výzkumného centra TOPTEC. Ředitel Ústavu, Ing. Petr Křenek, CSc., který rozhodnutí o přidělení dotace převzal v […]
***oznámení Tiskového odboru AV ČR (upraveno)
Ústav fyziky plazmatu Akademie věd ČR získal pro své optické pracoviště sídlící v Turnově dotaci ve výši téměř 176 milionů Kč z Operačního programu Výzkum a vývoj pro inovace na financování projektu regionálního výzkumného centra TOPTEC.
Ředitel Ústavu, Ing. Petr Křenek, CSc., který rozhodnutí o přidělení dotace převzal v pátek 1. října od ministra školství Josefa Dobeše, o projektu řekl: „Dotace přinese nejenom kvalitativní zlepšení a rozšíření strojního a přístrojového vybavení stávajícího pracoviště, ale v průběhu řešení také 35 nových pracovních míst. TOPTEC se tak stane centrem, které bude mezinárodně konkurenceschopné při získávání high-tech výzkumných a vývojových zakázek například z oblasti laserové optiky a kosmického výzkumu.“ Projekt je tříletý a byl zahájen bezprostředně po rozhodnutí o dotaci – 1. října 2010.
Náplní činnosti centra TOPTEC bude výzkum a vývoj v oblasti speciální optiky a optoelektronických systémů, rozdělený do šesti vzájemně provázaných podoborů: 1) asférická optika, 2) tenké vrstvy pro optické systémy, 3) adaptivní optika, difraktivní optické elementy, ultrapřesné měřicí metody, optoelektronické systémy, 4) krystalová a rentgenová optika, 5) optické systémy a metody pro detektory částic, 6) jemná mechanika.
Centrum TOPTEC bude disponovat unikátním vybavením, jako je lešticí centrum s možností leštit asférické povrchy s přesností dosahující l/20 a vysokou odchylkou plochy od sféry, ultrapřesné obráběcí centrum dosahující přesnosti obrobení povrchu v řádech nanometrů a naprašovací zařízení s iontovou asistencí. Plánovaná jsou také přesná měřicí zařízení, mezi něž patří např. AFM mikroskop, „white light“ interferometr pro měření drsnosti povrchu, interferometr pro měření asférických ploch, moderní elipsometr, RTG goniometr, 3D měřicí souřadnicový stroj apod.
Komentáře
Napsat vlastní komentář
Pro přidání příspěvku do diskuze se prosím přihlašte v pravém horním rohu, nebo se prosím nejprve registrujte.